芯片缺陷检测，芯片外观缺陷检测系统方案

快盈lV入口500万随着科技的发展，在现在的工业市场上，芯片的品种非常多，并且在不断增加。每种芯片产量少则几千件，多则上万件。

为保证芯片的尺寸精度，每一篇芯片需要检测设备进行全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级。

传统的快盈lV入口500万采用影像测量机，一个一个进行人工操作测量分级，不仅需要在人力上投入大量的财力，并且无法保证良品率。面对与日俱增的巨大工作量，如何使用一条自动化的测量分拣料线，解决客户自动检测、筛选的同时，保证高精度的测量结果，是客户迫切希望解决的难题。

盈泰德科技快盈lV入口500万：一条自动化的测量分拣料线，解决客户提出的问题。

盈泰德科技将机器人抓取、视觉识别、自动测量和数据传输技术与影像测量机控制和测量软件进行了整合。

方案布局

现场实施

客户将产品摆放到托盘，每个托盘里可以放置100多件产品，然后将料盘码放在料线上，按一下启动按钮，自动料线将自动完成测量和分拣工作，将产品摆放在三种不同的料盘中，并码垛输出。

 

项目关键技术

快盈lV入口500万1.高精度的视觉识别芯片位置，并引导测量机到达测量位置；

快盈lV入口500万2.影像测量机软硬件与外部设备的数据交互；

3.微小零件的视觉识别与自动拾取；

4.芯片品种多样，更换频繁，需更柔性化的操作软件

盈泰德凭借高效强大的自动化快盈lV入口500万，为客户解决检测难点的同时，大幅度提升检测效率、产品精度，该方案获得客户的高度赞扬，如果你的工业生产线中需要用到机器视觉检测方面的技术，那么不妨和我们盈泰德科技聊聊，我们会先根据你的需求分析，免费从一个专业的角度来给你一个合适的方案，再听取你的意见，即使没达成合作，我们也希望能多认识个朋友。